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致茂Chroma 58620 激光半導體特性測試機 全自動化檢測邊射型激光半導體芯片 高精密及高容量載具設計 自動光纖耦合測試對位設計（Auto-alignment） AOI輔助定位，加速測試時間 共用載具設計可搭配燒機測試

致茂Chroma 7940 晶圓檢測系統 可同時檢測正反兩面晶圓 大可檢測6吋擴膜晶圓（檢測區域達8吋范圍 ） 可因應不同產業的晶粒更換或新增檢測項目 上片后晶圓自動對位機制

Chroma 58635-L/N/F光電組件晶圓點測系統 58635-L光電組件晶圓LIV點測系統 58635-N光電組件近場量測點測系統 58635-F光電組件遠場量測點測系統

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